Изучение почвенно-грунтовой толщи с помощью новой технологии электроразведки - Кириченко, А.В; Кондрашкин, Б.Е; Егоров, Ю.В; Тен, К.М (Вестник Московского университета. 17, Серия Почвоведение : научный журнал)